Meta申请眼动追踪体系校准专利,支持头显装备自动校准

Meta申请眼动追踪体系校准专利,支持头显装备自动校准

13 6 月, 2025 阅读 3 字数 597 评论 0 喜欢 0

查看引用/信息源请点击:Nweon

校准眼动追踪系统

(Nweon 2025年06月13日)眼动追踪(ET)对于AR/VR头显的一系列应用和功能变得越来越重要。通常情况下,工厂会在将头戴式设备发布给客户之前对其进行校准。但发货后的产品可能会受到各种机械或热效应的影响。例如,在产品的使用寿命期间,头戴式设备可能会跌落,或暴露于各种温度变化之中,并造成眼动追踪性能的下降。

在一项专利申请中,Meta就介绍了用于校准眼动追踪系统的方法。

图1示出了耦合到校准装置108的头戴式设备100。校准装置108可拆卸地耦合到头戴式设备100的透镜101和/或框架106的背面。校准装置108包括多个3D物体,包括3D柱或圆柱体102以及具有反射表面的3D球面或3D球105。

如图1所示,三维柱或圆柱102具有不同的高度,彼此之间的距离不同。头戴式设备100包括框架106、透镜101和臂104。眼动追踪系统可以使用位于头戴式设备框架的摄像头。在实施例中,头戴式设备100包括ET摄像头147A和ET摄像头147B。

ET摄像头147A或147B可以拍摄多个3D物体的图像,以收集每个ET摄像头147A或147B各自的校准信息,并可以同时从多个摄像头收集校准信息。

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